动态光散射(DLS)和Zeta电位 在大多数情况下,胶体粒子带有正电荷或负电荷。在外电场的作用下,粒子向其极性相反的方向移动。颗粒在移动过程中受激光照射,其散射光的多普勒频移取决于电泳迁移率。结合外差系统和光子相关方法进行相关函数的傅里叶变换(FFT)以得到多普勒频谱,从而算出Zeta电位。 |
![]() | NanoPlus是独特的利用光子相关光谱法和电泳光散射技术测量粒度、Zeta电位和分子量的仪器。该仪器结构紧凑、易于使用、分析范围广、带有交互式软件和多个样品池,满足不同用户的应用。
ASTM: E2490 |
空气渗透法 |
麦克仪器SAS全自动费氏粒径测试仪,是由费氏95粒径仪(FSSS)发展和升级而来,空气渗透技术是公认的粉体样品比表面积(SSA)测试技术。使用该技术测定的SSA数据已经在多个行业广泛使用,例如:药物、金属涂料、颜料和地质等行业
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电阻法 电阻法检测通过感应区的颗粒,该感应区是一个连通两边电解质溶液的短毛细管,两个电极分别插在两边的电解质溶液中。当颗粒通过感应区时,它会取代相同体积的导电溶液,从而改变通过毛细管的电阻。由此产生的电脉冲信号被传感器检测, 脉冲的幅度与颗粒的体积成正比。仪器测量电脉冲的数量以及每个脉冲的振幅。通过这些数据,即可以得到颗粒的数量与体积。对于密度均匀的颗粒,体积与质量成正比。虽然直接测量的是每个颗粒的体积,但是粒径报告也可以是等效球直径。 |
ElzoneⅡ颗粒计数与粒度分析仪采用电阻法这种有效的颗粒粒度表征技术,适用于同时分析具有不同光学性质、密度、颜色和形状的颗粒样品可迅速、精确地检测精细颗粒材料的尺寸、数目、浓度以及质量。ElzoneⅡ被广泛应用于工业、生物、地质等粒度大于0.4μm的颗粒,具有极高的准确度和分辨率,操作非常简便。
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X光沉降 下,报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。 |
结合成熟的SediGraph分析技术,SediGraph III通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度,无需模型,仪器有很好的重复性、精确性和重现性。
ASTM: B761, C958, C110 |
多年来,粒度分析仪都是假设测量粒子是球型而得到分析结果。然而,在许多应用中,粒子的形状可影响生产过程中的性能和流动性。因此,相对于单独使用粒度分析仪而言,原材料的粒形信息可使生产商更好地控制工艺。使用粒形参数,如平整 度、圆度和长宽比控制生产工艺可更好地预测生产结果,譬如生产过程中粉末的流动性、磨料的有效性或一种药品的活性组分。与静态图像分析仪相比,动态图像分析仪单次测试的样品量增加,减少在取样方面的误差; 单位时间内测量的颗粒数量 多,增加测试结果的统计代表性。 |
Particle Insight是一款现代化的动态图像分析仪,对于那些不仅由于颗粒大小,并且也必须由颗粒形状来确定原材料性能的应用,Particle Insight是理想的工具。
ISO: 13322-2 |
静态光散射 |
Saturn DigiSizer II »
| 采用航天级的电荷耦合器CCD技术和超过三百万个检测器保证仪器获得极高的分辨率和完美的数字化散射图样以获得极高重现性的结果,即使对于复杂材料也可以获得高分辨率的结果。
ASTM: B822, C1070, D4464 |